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三豐粗糙度輪廓儀SV-C3200

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更新時(shí)間：2022-11-21 17:15:28瀏覽次數(shù)：243次

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詳細(xì)介紹

表面粗糙度測(cè)量功能

? 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測(cè)量范圍為8μm時(shí))。

? X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動(dòng)距離，在高精度**定位下，完成間距參數(shù)的評(píng)價(jià)。

? 檢出器測(cè)力有4mN和0.75mN可選。輪廓測(cè)量功能

? Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測(cè)臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測(cè)針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號(hào)相比，新測(cè)臂使Z1軸測(cè)量范圍增大了10mm 同時(shí)減少了工件的干擾。測(cè)臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測(cè)臂的裝卸，提高了易用性。

? 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測(cè)量系統(tǒng)的專用功能。

(1) 裝配雙錐面測(cè)針，實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測(cè)量，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單分析以往難以測(cè)量的內(nèi)螺紋有效直徑。

(2) 測(cè)力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。

? 表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過簡(jiǎn)單的操作就能進(jìn)行高級(jí)分析并即刻輸出結(jié)果。

? 表面粗糙度測(cè)試儀和輪廓測(cè)量?jī)x結(jié)合在一起，節(jié)省安裝空間。