一．PFL78*診斷系統(tǒng)特點(diǎn)及功能

 

    PFL780提供了強(qiáng)大的測(cè)試功能及優(yōu)秀的集成環(huán)境，使用戶可以很方便地編寫測(cè)試程序，對(duì)各式各樣的印刷電路器件進(jìn)行測(cè)試。PFL780 應(yīng)用了現(xiàn)已被業(yè)界廣為稱贊的模擬信號(hào)分析(ASA)技術(shù)，該技術(shù)可使用戶高效地解決印刷電路板的故障問題；除此之外更擁有另一種檢測(cè)故障的手段--在線功能測(cè)試。

 

    PFL作為一種出色的測(cè)試儀器，具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域：在維護(hù)領(lǐng)域，可用于故障檢測(cè)；在制造業(yè)中，可用于內(nèi)部測(cè)試和故障檢修；在維修服務(wù)方面，可以快速診斷故障所在。

    PFL控制軟件運(yùn)行于裝有Microsoft WIN 95/98 操作平臺(tái)的IBM PC或兼容機(jī)上。計(jì)算機(jī)串口通過一條RS232-C電纜與PFL設(shè)備連接，高速傳輸命令和數(shù)據(jù)。

    該軟件提供了一個(gè)集成測(cè)試環(huán)境, 用戶可以編寫測(cè)試程序，采集、查看、存儲(chǔ)器件信號(hào)，還可以設(shè)置系統(tǒng)的訪問權(quán)限。采集到的信號(hào)經(jīng)過數(shù)字化處理后存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)硬盤上， 可以作為參照信號(hào)與待測(cè)器件的信號(hào)相比較。信號(hào)波形可由打印機(jī)打印出來。

    測(cè)試文件的編譯、保存十分簡(jiǎn)單。測(cè)試文件可以保存在計(jì)算機(jī)硬盤上或備份到軟盤上，便于和其他維修機(jī)構(gòu)或組織進(jìn)行交流。

 

1）PFL780電路板故障檢測(cè)儀具有：

 

4個(gè)IDC插座，共128個(gè)測(cè)試通道；
A通道和B通道探針；
兩個(gè)并行的COM （公共地）連接器；
兩個(gè)脈沖信號(hào)發(fā)生器并行輸出；
ICT 5V 電源；
4個(gè)ICT 邏輯高（5V）及低（0V）的隔離電平；
腳踏開關(guān)（ACC124）。（踩下腳踏開關(guān)相當(dāng)于在 工具欄 中按下 測(cè)試 按鈕。）

 

2）模擬信號(hào)分析 

    模擬信號(hào)分析（ASA）技術(shù)，是指對(duì)被測(cè)器件的引腳施加一個(gè)小功率、處于安全使用范圍之內(nèi)的交流驅(qū)動(dòng)電壓（AC），而使其在電腦屏幕上顯示出一個(gè)阻抗信號(hào)（V-I曲線）。阻抗信號(hào)是一個(gè)以窗口屏幕中心為原點(diǎn)，以電平和電流分別作為X軸、Y軸的圖形。正電壓和電流顯示與右上象限；負(fù)電壓和電流顯示在左下象限。

 

負(fù)載線在坐標(biāo)軸上相接，圍成一個(gè)菱形區(qū)域。所有測(cè)試信號(hào)都在這個(gè)區(qū)域內(nèi)。
    不同類型的器件的信號(hào)波形明顯不同，因此很容易被分辨出來。測(cè)試操作一旦完成，驅(qū)動(dòng)電壓將立即取消。因此，用戶不必?fù)?dān)心待測(cè)器件會(huì)被損壞。對(duì)比有故障器件和正常器件的測(cè)試信號(hào)，這樣，對(duì)一些復(fù)雜電路，不須了解其功能特性，也可以找出故障原因。 這一點(diǎn)在技術(shù)文檔不完備的情況下 顯得猶為重要。

 

 

3）在線功能測(cè)試

 

    PFL780 的在線測(cè)試功能是指：將待測(cè)器件在測(cè)試過程中實(shí)際測(cè)到的邏輯輸出與它本身所帶的數(shù)字器件庫中所定義的相應(yīng)器件的標(biāo)準(zhǔn)輸出相比較，以判定器件的好壞。進(jìn)行在線功能測(cè)試時(shí)，無須將器件從電路板上摘除，只需將測(cè)試夾具夾在待測(cè)器件上即可進(jìn)行測(cè)試。
PFL780 器件庫包含從簡(jiǎn)單的門電路到微處理器的多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的數(shù)字器件（不同的邏輯系列）。
PFL780 可以將一個(gè)采集到的、好的器件的信號(hào)，作為進(jìn)行比較的參照標(biāo)準(zhǔn)。器件中具有固定邏輯高/低電平的引腳，以及引腳間的內(nèi)部連接，也將作為參照數(shù)據(jù)的一部分而保存起來。
在ICT 編程及測(cè)試期間，引腳連接圖和邏輯時(shí)序圖顯示出控制線、信號(hào)輸入和輸出間的相互關(guān)系，可以讓用戶很直觀地看到器件每個(gè)引腳的動(dòng)作。
當(dāng)處于PFL 交互測(cè)試窗口 時(shí)，用戶可以直接使用ASA 技術(shù)測(cè)試器件 _ 使用 交互測(cè)試 功能可以同時(shí)對(duì)比有故障的電路板和作為參照的正常電路板，多用于小范圍內(nèi)的比較測(cè)試。
器件的測(cè)試信號(hào)顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上。通道A所測(cè)試器件的信號(hào)波形為綠色，通道B的為紅色。

 

4）用戶在操作屏幕上可以調(diào)整可以調(diào)整以下選項(xiàng)：

 

 

測(cè)試范圍選擇

 

在 交互測(cè)試窗口 中，可以用手動(dòng)/自動(dòng)方式選擇測(cè)試電平和頻率。這樣可以快速選出適合待測(cè)器件或電路的測(cè)試電平和頻率。

 

屏蔽的測(cè)試電平

 

使用電平范圍菜單中的屏蔽命令，用戶可以選擇在手動(dòng)、自動(dòng)或循環(huán)方式下需要屏蔽的電平范圍。

 

自動(dòng)選擇適合的測(cè)試電平范圍

 

使用 自動(dòng) 選項(xiàng)，可以自動(dòng)選擇能產(chǎn)生有意義的信號(hào)波形的驅(qū)動(dòng)電平范圍。通道 A 可以執(zhí)行這種操作。

 

循環(huán)測(cè)試

 

使用 循環(huán) 選項(xiàng)，在每個(gè)電平范圍內(nèi)循環(huán)顯示測(cè)試信號(hào)。拉動(dòng) 步頻 控制條來設(shè)置每個(gè)范圍驅(qū)動(dòng)電平的保持時(shí)間。

 

可調(diào)整測(cè)試的容錯(cuò)度

 

    拖動(dòng) 容錯(cuò)度 控制條（從1 至 99%）來改變信號(hào)比較的靈敏度。較小的值代表較嚴(yán)格的比較，較大的值允許信號(hào)有較多的不同。開始時(shí)容錯(cuò)度設(shè)置為5%，可以調(diào)整這個(gè)值，使好的器件能通過測(cè)試而有故障的被查出。

 

聲音提示

 

    單擊 聲音提示按鈕 ，可以使PFL在對(duì)比兩個(gè)信號(hào)期間，一旦出現(xiàn)超過 容錯(cuò)度 設(shè)定的差異時(shí)，即刻發(fā)出聲響警告。該項(xiàng)功能使用戶在測(cè)試時(shí)能夠?qū)Ｗ⒂趯?duì)待測(cè)器件的操作，而不必總要留意計(jì)算機(jī)屏幕。

 

脈沖信號(hào)發(fā)生器

 

PFL具有脈沖信號(hào)發(fā)生電路，通過調(diào)整脈沖信號(hào)的振幅, 脈寬, 極性和延時(shí)，來控制三極管, SCRs, Triacs 和其它三端器件的導(dǎo)通狀態(tài)。

 

二.半導(dǎo)體分立器件測(cè)試

 

1）測(cè)試電阻

 

純電阻器件產(chǎn)生的信號(hào)波形為一條斜的直線，其斜率由阻值而定。
下圖顯示的是三個(gè)不同阻值的電阻（2kΩ、270kΩ和10KΩ）的典型信號(hào)波形。
2ΚΩ電阻，邏輯電平，低頻 Ω電阻，高電平，低頻Ω電阻，高電平，低頻

 

2）測(cè)試電容

 

由于具有儲(chǔ)能特性，電容、電感器件的測(cè)試信號(hào)將在電壓和電流上產(chǎn)生相位移。
測(cè)試信號(hào)將因此呈現(xiàn)為圓形或橢圓形。

 

3）測(cè)試電感

 

    左下圖是鐵心變壓器的一次線圈，在測(cè)試電平為 低電平，測(cè)試頻率為 高頻 時(shí)的信號(hào)波形。由于受器件中電阻成分的影響，橢圓形信號(hào)是傾斜的。右下圖顯示的是相似的鐵心變壓器，但其有短路匝。用戶可以選擇的測(cè)試頻率_低頻、中頻 或 高頻 。對(duì)于電容器件而言，測(cè)試頻率越高，通過的電流越大，此時(shí)信號(hào)波形在Y軸方向的延伸就越長(zhǎng)；而對(duì)于電感器件而言，測(cè)試頻率越低，通過的電流越大。

 

4）測(cè)試二極管,LED和齊納管

 

對(duì)于二極管，當(dāng)施加正向電壓時(shí)，其呈現(xiàn)出低阻抗特性，有0.6V壓降，信號(hào)波形近似為一條平行于Y軸的垂直線，如圖。

 

5）測(cè)試三極管

 

    一個(gè)三極管由兩個(gè)PN結(jié)以"背對(duì)背"方式組成（一個(gè)在基極和集電極之間，另一個(gè)在基極和射極之間）。下圖顯示的是三種典型的NPN型三極管的測(cè)試信號(hào)波形（基極-射極，基極-集電極以及射極-集電極）。NPN型三極管的集電極和射極為N-型材料，基極為P-型材料。.

基極-射極間的測(cè)試信號(hào)與齊納管的相似。長(zhǎng)時(shí)間對(duì)基極-射極間PN結(jié)施加反向擊穿電壓，將會(huì)影響器件的特性。
基極-集電極間的測(cè)試信號(hào)與普通二極管相似。
集電極-射極間的測(cè)試信號(hào)有如二極管和齊納管串聯(lián)在一起。當(dāng)驅(qū)動(dòng)電壓為正時(shí)（右區(qū)域），集電極-基極間是反向偏壓，基極-射極間是正向偏壓。集電極-基極間的反向偏壓抑制了電流，形成一個(gè)開路信號(hào)（一條垂直線）。
當(dāng)驅(qū)動(dòng)電壓為負(fù)時(shí)（左區(qū)域），集電極-基極間是正向偏壓，基極-射極間是反向偏壓?；鶚O-射極間的信號(hào)就象上述齊納管反向擊穿時(shí)的一樣，為一個(gè)類似于齊納管信號(hào)偏壓抑制了電流，形成一個(gè)開路信號(hào)（一條垂直線）。
PNP三極管的信號(hào)波形剛好和NPN三極管的波形相反。

 

6）判斷三極管引腳

 

對(duì)三極管進(jìn)行三端測(cè)試，可驅(qū)動(dòng)三極管的基極，檢查它是否能控制集電極-射極間的導(dǎo)通。
由于三極管具有的開關(guān)特性，當(dāng)其開始導(dǎo)通時(shí)，信號(hào)波形多類似于右圖。（波形相反是因?yàn)槭荘NP管的緣故）。 這并不表明有故障，只是說明器件在正常導(dǎo)通和飽和狀態(tài)之間切換。選擇其它范圍電壓進(jìn)行測(cè)試，可以得到穩(wěn)定的信號(hào)波形。
測(cè)試場(chǎng)效應(yīng)管（JFETs）可當(dāng)作普通二極管來測(cè)試。而對(duì)MOSFET管可進(jìn)行三端測(cè)試

 

7）測(cè)試光電隔離器

 

光電隔離器由一個(gè)作為輸入的LED 和一個(gè)在電氣上*隔離的輸出三極管組成（基極隔離）。
作為輸入端的二極管可按普通二極管來測(cè)試，輸出端的三極管（集電極-射極特性）的信號(hào)波形不是一條水平線（開路），就是和普通三極管的射極-集電極波形一樣。也可用脈沖信號(hào)發(fā)生器對(duì)光電隔離器進(jìn)行三端測(cè)試

 

8）測(cè)試SCR及Triacs

 

SCR可以看作是一個(gè)二極管外加一個(gè)控制端（所謂“柵極”）。 Triac與SCR非常相似，只不過Triac既可以受控于正向柵極電流，也可以受控于反向柵極電流，從而能夠雙向?qū)ā６叨伎捎妹}沖信號(hào)發(fā)生器對(duì)其進(jìn)行。

 

三．集成電路V/I曲線測(cè)試

 

    所有的集成電路都可以用探針對(duì)其引腳進(jìn)行測(cè)試（例如，對(duì)比兩塊電路板上相應(yīng)引腳的信號(hào)波形）。絕大多數(shù)的IC在此方式下測(cè)得的波形都與二極管或齊納管相似。
    注意： 由于IC制造商采用的生產(chǎn)技術(shù)不同，因此即使是同一型號(hào)的IC,也可能有不同的信號(hào)波形。測(cè)試前應(yīng)考慮到這一點(diǎn)。
對(duì)CMOS器件的ASA測(cè)試與上同，只不過由于制造工藝不同，VI曲線有所不同。

 

1)測(cè)試在線器件 

     當(dāng)測(cè)試一個(gè)在線器件時(shí)，其信號(hào)波形也包含著其他并聯(lián)器件的波形。大多數(shù)的故障測(cè)試都有這種情況發(fā)生。一個(gè)故障器件可能會(huì)影響與之相連的其它器件的測(cè)試信號(hào)。用戶可以測(cè)試多個(gè)點(diǎn)的信號(hào)波形，通過分析來找出故障器件。
電路中，任一測(cè)試點(diǎn)的電氣特性是不同的。測(cè)試方法就是：使用通道A 和 B 同時(shí)測(cè)量好板和故障板，來找出故障點(diǎn)。

 

2)測(cè)試總線上的器件

 

    當(dāng)多個(gè)器件連接在同一條總線上，可比較總線間信號(hào)的差異。同一總線上各傳輸線的信號(hào)波形應(yīng)該很相似（例如，所有數(shù)據(jù)線上的信號(hào)是一致的）。如果總線中有一根線的信號(hào)波形和其它的線不同，那么很有可能總線上的一個(gè)器件壞了。

 

四．快速測(cè)試檢測(cè)器件

 

    在PFL的 快速測(cè)試 窗口中，用戶不用編寫測(cè)試程序，直接就可以測(cè)試器件和電路板。如果用戶擁有一塊正常的電路板，那么就可以使用比較技術(shù)進(jìn)行測(cè)試。執(zhí)行 快速測(cè)試 操作，用戶可以從正常電路板上采集器件信號(hào)作為參照信號(hào)，然后再采集待測(cè)器件的信號(hào)與之比較。

 

點(diǎn)擊工具欄上的按鈕或點(diǎn)擊相應(yīng)菜單即可執(zhí)行各種操作。

 

有三種方法來實(shí)現(xiàn) 快速測(cè)試 比較功能：

 

標(biāo)準(zhǔn)模式 輸入器件的型號(hào)即可。
ASA模式 設(shè)備將自動(dòng)檢測(cè)待測(cè)器件的引腳數(shù)目并執(zhí)行 ASA 測(cè)試。
探針模式 使用探針或Polar SMD 探針進(jìn)行測(cè)試。

 

 

1）ICT連接功能

 

ICT連接使用器件的ICT驅(qū)動(dòng)來檢查內(nèi)部連接引腳或固定引腳。如果待測(cè)器件沒有ICT驅(qū)動(dòng)，PFL將執(zhí)行ASA連接測(cè)試。

 

2）ASA連接功能

 

ASA連接 功能檢測(cè)哪些引腳與公共地短接。

 

3）使用‘快速測(cè)試’進(jìn)行比較測(cè)試

 

按 快速測(cè)試 按鈕 _ 顯示 快速測(cè)試 窗口，上一次測(cè)試的器件型號(hào)顯示在下拉列表窗口內(nèi)。
在比較測(cè)試中， 快速測(cè)試 窗口將顯示 采集參照信號(hào) 的提示，輸入器件型號(hào)（例如74LS244，或者從器件庫列標(biāo)中選擇器件），將測(cè)試夾具夾在好的器件上，然后按 測(cè)試按鈕 或踩腳踏開關(guān)采集并保存參照信號(hào)。
（如果為此器件輸入了注釋信息或注意事項(xiàng)，那么這些信息將在采集信號(hào)前顯示在屏幕上；按 確定 按鈕繼續(xù)執(zhí)行測(cè)試。）
參照信號(hào)可以通過切換 查看屏幕.進(jìn)行瀏覽。按 查看 ASA，查看 ICT 或 查看連接 按鈕，打開或選擇一個(gè)查看屏幕。
顯示 采集待測(cè)器件信號(hào) 的提示時(shí)，將測(cè)試夾具夾在待測(cè)器件上，然后按 測(cè)試 按鈕，待測(cè)器件的信號(hào)將與保存的參照信號(hào)進(jìn)行比較。
結(jié)果欄中將顯示 通過 或 失敗 的測(cè)試結(jié)果，并且在列表中用 綠色對(duì)鉤 或 紅色小叉 來表明不同類型的測(cè)試是否通過或失敗。

 

4）查看ASA測(cè)試結(jié)果

 

ASA 結(jié)果窗口顯示參照信號(hào)和待測(cè)器件的每個(gè)引腳在設(shè)定的所有電平范圍內(nèi)（結(jié)電平，邏輯電平，低電平等等）的信號(hào)波形。

 

5）查看ICT測(cè)試結(jié)果

 

ICT 查看屏幕將顯示待測(cè)器件的邏輯時(shí)序圖。
邏輯時(shí)序圖 以圖形的方式表示在線器件的邏輯功能。邏輯時(shí)序圖 顯示器件的每個(gè)引腳在每個(gè)測(cè)試步驟上的邏輯電平，顯示控制線和信號(hào)輸入及輸出間的關(guān)系，以可視化的方法表現(xiàn)每個(gè)器件引腳上的動(dòng)作。

 

6查看連接

 

連接 窗口顯示器件的 連接 測(cè)試結(jié)果。

 

五．電路板故障檢測(cè)

 

1）自動(dòng)測(cè)試

 

如果沒有參照電路板用來進(jìn)行比較測(cè)試，選擇 自動(dòng) 選項(xiàng)，對(duì)待測(cè)電路板上的器件進(jìn)行 ICT 測(cè)試。
當(dāng)一個(gè)器件被置于電路中時(shí)，其邏輯操作和標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的操作是不同的。例如，將一個(gè)雙輸入與非門的輸入引腳短接，其功能將和一個(gè)反向器相同。自動(dòng) 功能將自動(dòng)修正這種情況下的測(cè)試方法。
當(dāng)使用 自動(dòng) 功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，PFL780 將識(shí)別待測(cè)器件的引腳哪些是相連的，哪些是連接在固定電平上的，然后為待測(cè)器件建立一個(gè)軟件模型，將待測(cè)器件在當(dāng)前電路環(huán)境下與這個(gè)模型進(jìn)行測(cè)試。

 

2）搜索器件型號(hào)

 

當(dāng)一個(gè)器件的型號(hào)不可知時(shí)（例如，器件型號(hào)已模糊不清或被打磨掉），可使用 搜索 功能。PFL780 將在它的 ICT 器件庫中搜索與未知器件行為模式相符的器件。

 

六．使用ICT進(jìn)行電路板及器件測(cè)試

 

使用 PFL780 ，用戶可以對(duì)在器件庫中建立有測(cè)試模型的器件，進(jìn)行單一的和反復(fù)的 ICT 測(cè)試。當(dāng)不知道器件的型號(hào)時(shí)， PFL780將器件和器件庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，列出相同功能的器件型號(hào)。
ICT 測(cè)試技術(shù)，被廣泛地應(yīng)用于測(cè)試和維修那些包含數(shù)字集成電路的印刷電路板。
ICT 是一種對(duì)邏輯器件執(zhí)行功能測(cè)試的測(cè)試方法。ICT 按照數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)參數(shù)，驗(yàn)證其相應(yīng)的邏輯功能是否正確。在進(jìn)行 ICT 測(cè)試期間，PFL780 驅(qū)動(dòng)數(shù)字器件的所有輸入端，并檢查其輸出端的結(jié)果是否正確。
使用 ICT 可以測(cè)試大量的邏輯器件（例如，利用 ICT 功能，PFL780 可以輕易的根據(jù)真值表來測(cè)試邏輯門電路，或在一段給定的時(shí)鐘周期內(nèi)測(cè)試計(jì)數(shù)器或移位寄存器）。
ICT 甚至可以測(cè)試非常復(fù)雜的器件 _ 舉個(gè)例子，PFL780可以測(cè)試大容量的存儲(chǔ)器，例如VLSI RAM （寫入每個(gè)存儲(chǔ)單元，然后讀出以驗(yàn)證數(shù)據(jù)是否正確）。
ICT 也可以用來測(cè)試可編程器件，例如對(duì)ROM或EPROM的編程是否正確或可編程接口器件的受控是否正確。
使用 ICT ，PFL780 將正常電路板上的器件信號(hào)儲(chǔ)存起來，用以和待測(cè)電路板上相應(yīng)器件的信號(hào)相比較，測(cè)試結(jié)果表現(xiàn)為顯示“通過/失敗”或顯示引腳間的連接和邏輯時(shí)序圖， 使用戶可以快速找出那些較隱蔽的錯(cuò)誤。

 

大多數(shù)情況下，用戶只需將測(cè)試夾具夾在待測(cè)的數(shù)字器件上，器件的型號(hào)（如果已知的話），就可以進(jìn)行測(cè)試。在 ICT 測(cè)試中，PFL780在測(cè)試期間自動(dòng)為待測(cè)器件加電，對(duì)比待測(cè)器件和器件庫中標(biāo)準(zhǔn)器件的邏輯功能。

 

 

1）測(cè)試在線器件

 

某些情況下，器件在電路中的邏輯動(dòng)作與其真值表的描述一致。此時(shí)，用戶只要簡(jiǎn)單地將測(cè)試夾具夾在器件上，并器件型號(hào)就可進(jìn)行測(cè)試。
通常，用戶首先用 PFL780 采集好板子上器件的信號(hào)。在采集過程中，會(huì)將器件的工作模式和器件庫中相應(yīng)器件的標(biāo)準(zhǔn)工作模式相比較，它們間的差異會(huì)被記錄下來。
采集到的信號(hào)將作為參照信號(hào)，用來和待測(cè)板上相應(yīng)器件的信號(hào)相比較。
為了處理不同的制造商生產(chǎn)的同一型號(hào)器件間存在差異的問題。PFL780允許用戶保存多個(gè)制造商生產(chǎn)的器件的信號(hào)作為參照信號(hào)，待測(cè)器件的信號(hào)將和這些參照信號(hào)相比較。

 

2）后驅(qū)動(dòng)技術(shù)

 

如果要*測(cè)試一個(gè)數(shù)字器件，測(cè)試程序必須核定被測(cè)器件在所有可能的輸入情況下的輸出結(jié)果是否正確。PFL780的內(nèi)部測(cè)試電路能夠提供或吸收額外的電流，來改變待測(cè)器件任意引腳上的邏輯電平，強(qiáng)制引腳處于狀態(tài)，而不管其前級(jí)輸出的邏輯狀態(tài)如何 _ 這就是我們通常所說的后驅(qū)動(dòng)技術(shù)。

 

后驅(qū)動(dòng) 是在數(shù)字在線測(cè)試技術(shù)之后出現(xiàn)的主要測(cè)試技術(shù)。為了對(duì)數(shù)字集成電路進(jìn)行一次完整的邏輯功能測(cè)試，必須使待測(cè)器件的輸入端出現(xiàn) 所有 可能的邏輯狀態(tài)。驅(qū)動(dòng)待測(cè)器件的 輸入 通常是指反向驅(qū)動(dòng)（提供或吸收輸出電流）與其相連的其它器件的 輸出 。

 

為了限制對(duì)待測(cè)器件前級(jí)門電路的電流驅(qū)動(dòng)，PFL780 將在16mS內(nèi)完成整個(gè)測(cè)試過程。
以上是對(duì)獲得國(guó)際上廣泛認(rèn)同的后驅(qū)動(dòng)技術(shù)的闡述。

 

 

3）數(shù)字芯片的ICT測(cè)試

 

注意：在進(jìn)行 ICT 測(cè)試期間， 務(wù)必確保設(shè)備不和任何外部的0 至 +5V 相連接。否則，極易對(duì) ICT 驅(qū)動(dòng)器/傳感器網(wǎng)絡(luò)造成損壞。
或者，在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí)使用 ZIF 測(cè)試座（ACC145）。
在線器件的信號(hào)采集和測(cè)試過程要求對(duì)電路板加電。整個(gè)過程由兩個(gè)測(cè)試部分組成 _ 連接測(cè)試和邏輯功能測(cè)試.

 

1>連接測(cè)試

 

在連接測(cè)試中，PFL780 檢查器件引腳的狀態(tài)。
指出哪些狀態(tài)固定為高或低電平的引腳（例如，電源引腳和接地引腳總是固定為高電平和低電平）。
PFL780 也記錄引腳間的內(nèi)部連接。
連接測(cè)試的結(jié)果顯示在連接窗口。

 

2>功能測(cè)試

 

在功能測(cè)試中，PFL780 檢查器件是否正確實(shí)現(xiàn)了它本身的邏輯功能。
PFL780 從器件庫中調(diào)出測(cè)試程序，驅(qū)動(dòng)器件的所有輸入端并監(jiān)視輸出端上的相應(yīng)變化。
功能測(cè)試的結(jié)果顯示在ICT 窗口，.

 

3>調(diào)整測(cè)試條件

 

當(dāng)在線測(cè)試數(shù)字集成電路時(shí)，待測(cè)器件必須可以初始化，確保電路中的其它器件不能影響到測(cè)試的結(jié)果,防止其它信號(hào) （例如，時(shí)鐘信號(hào)） 干擾測(cè)試結(jié)果。

4>邏輯時(shí)序圖

邏輯時(shí)序圖 以圖形的形式顯示在每個(gè)器件引腳測(cè)試過程中的每個(gè)測(cè)試步驟上的邏輯電平狀態(tài)。
電平顯示為 高電平，低電平，三態(tài)（高低電平間的點(diǎn)劃線） 或 無關(guān) （斜杠區(qū)域）。
參照信號(hào)（學(xué)習(xí)到的信號(hào)）的波形呈 綠色 。
正確的引腳波形也顯示為 綠色；錯(cuò)誤的引腳波形呈 紅色 ，易于分辨。

 

5>采集器件信號(hào)

 

當(dāng)以邏輯真值表測(cè)試器件時(shí)，PFL780 從器件庫中載入測(cè)試程序，將器件的動(dòng)作和器件庫中標(biāo)準(zhǔn)模式器件的動(dòng)作相比較。
對(duì)于焊接載電路中的器件，用戶首先用 PFL780 采集正常電路中的器件信號(hào)，作為參照信號(hào)。
在采集參照信號(hào)的過程中， 將器件的邏輯時(shí)序和器件庫中“標(biāo)準(zhǔn)”器件的相比較，并將兩者間差異保存起來。這種情況下，甚至在有懸空引腳、和本身其它引腳或附近器件的引腳相連的引腳、接地或接高電平的引腳等的情況下，也能對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試。
存儲(chǔ)的信號(hào)作為參照信號(hào)，用來和懷疑有故障的電路板上的信號(hào)進(jìn)行比較 _ 成功則顯示“通過”。
使用 PFL780 還可以學(xué)習(xí)和測(cè)試燒錄好的可編程器件，例如EPROM和PAL。對(duì)器件的學(xué)習(xí)過程是測(cè)試程序的一部分。

 

6>測(cè)試器件

 

當(dāng)測(cè)試器件時(shí)，PFL780 顯示測(cè)試的結(jié)果，包括測(cè)試是否通過，引腳分布圖，顯示所有的固定引腳以及確定的和意外的連接，一個(gè)邏輯狀態(tài)圖（用來表明器件引腳在每個(gè)測(cè)試點(diǎn)上的邏輯狀態(tài)）。
PFL780 載入已完成學(xué)習(xí)操作的測(cè)試程序進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試的結(jié)果（通過或失?。?，將和 ICT 測(cè)試的結(jié)果同時(shí)顯示。即顯示連接測(cè)試的結(jié)果和功能測(cè)試通過或失敗的引腳序號(hào)。
連接框圖中顯示每個(gè)引腳的序號(hào)和功能（例如CLK, VCC, GND, 等等），以及是否為固定引腳和相連引腳。

 

七．對(duì)在線器件進(jìn)行隔離

 

1)總線器件（三態(tài)）

 

在總線系統(tǒng)中，所有器件通過總線連接。任何時(shí)候，總線上只能有一個(gè)器件發(fā)送數(shù)據(jù)。
因此，總線上所有器件的輸出就必須具有一種不同于邏輯高電平或低電平的狀態(tài) _ 開路狀態(tài)。這樣，總線器件就具有了所謂的三態(tài) ：高電平、低電平和開路。
三態(tài)器件有一個(gè)使能輸入端，用來控制器件的連接狀態(tài)（是作為普通邏輯器件連接到總線上，還是對(duì)總線開路）。
使能端通常和微處理器的某根控制線連接（有時(shí)是間接連接）。使能信號(hào)一般為邏輯低電平，即使能端上的低電平允許總線器件輸出高或低電平。
提示： 將微處理器系統(tǒng)中的 CPU 摘除可使總線器件的使能端懸空至高電平。這樣做可使總線器件相互隔離，防止出現(xiàn)總線沖突。
當(dāng)總線器件被禁止時(shí)，其輸出對(duì)于總線來說是開路的，可看作是器件從總線上脫離 _ 通過禁止總線器件可使待測(cè)器件獨(dú)享總線。

 

2)使用PFL780提供的隔離電平將在線器件隔離

 

在多數(shù)情況下，將器件摘除或禁止都很困難。
PFL780 在前面板提供了邏輯高和低的隔離電平（+5V 和 0V），來禁止待測(cè)器件周圍的外圍器件。這樣就不必采用將待測(cè)器件從電路板上摘除的隔離方法。
如果象諸如摘除CPU或禁止總線緩沖器的方法實(shí)現(xiàn)起來較困難，那么可以使用提供隔離電平到CPU的RESET，HOLD，或DMA 請(qǐng)求端的方法來隔離總線上的器件。
許多類型的器件具有一個(gè)低有效端或控制線 _ 對(duì)控制線加一個(gè)邏輯高電平將使輸出端呈高阻狀態(tài)，起到輸出開路的作用。如果有多個(gè)器件共享總線，那么就需將隔離電平加到其中多個(gè)器件上，以保證能有效地隔離待測(cè)器件。
測(cè)試總線上的器件時(shí)，有效的隔離方法是提供隔離電平到總線上所有其它器件的輸入使能端（強(qiáng)制這些器件的輸出呈開路狀態(tài)）。
下圖中， U2是待測(cè)器件，隔離電平加在U1輸入使能端，U1 的輸出呈開路狀態(tài)。
使用隔離電平隔離一個(gè)器件

 

八．器件庫及其擴(kuò)展

 

    PFL780 系統(tǒng)軟件的器件庫涵蓋范圍很廣，其中包含有大多數(shù)通用數(shù)字器件的功能說明及引腳定義，如；TTL 器件（74和75系列）、4000 系列的 CMOS 器件、微處理器和微控制器、微處理器接口器件、存儲(chǔ)器器件和可編程邏輯器件等。同時(shí)，PFL780還為用戶提供了擴(kuò)展器件庫的工具— 器件庫管理器和ICT驅(qū)動(dòng)程序編程軟件，可以創(chuàng)建新的器件，或者為庫中已有器件建立別名。

 

1)編程窗口

 

    當(dāng) PFL 系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)，將顯示 快速啟動(dòng) 對(duì)話框，用戶可從中選擇學(xué)習(xí)一塊電路板、執(zhí)行一個(gè)已有的測(cè)試程序（從列表中選擇）或選擇 交互測(cè)試 或 快速測(cè)試 （ 快速啟動(dòng) 對(duì)話框中顯示最近進(jìn)行的一系列測(cè)試程序；如果還沒有創(chuàng)建測(cè)試程序，將顯示一個(gè)名為 無標(biāo)題 的、空的測(cè)試程序?？梢杂?設(shè)置 菜單中的 提示 命令，禁止其在系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)顯示）。

PFL 編程窗口提供了一個(gè)圖形化界面，用戶可以 創(chuàng)建一個(gè)新程序, 或修改、刪除一個(gè)已有的測(cè)試程序.
大多數(shù)情況下，用戶只需簡(jiǎn)單地從器件庫中選出某種類型的器件，就能進(jìn)行測(cè)試 _ PFL 也允許用戶對(duì)測(cè)試類型和參數(shù)進(jìn)行相當(dāng)程度上的修改。

    好的器件信號(hào)可以作為參照信號(hào)存儲(chǔ)起來以供用戶查看，可按器件引腳順序或按差錯(cuò)率降序順序來排列和查看待測(cè)器件的信號(hào)。另外，對(duì)于不同制造商生產(chǎn)的同一型號(hào)的器件，可按制造商的名稱來存儲(chǔ)各自的參照信號(hào)。這可以消除由于各制造商生產(chǎn)的器件間的差異而造成的誤判斷。

 

2)查看ASA信號(hào)

 

對(duì)于一個(gè)器件來說，每個(gè)屏幕最多可以顯示10個(gè)信號(hào)。當(dāng)查看一個(gè)多引腳器件的信號(hào)時(shí)，可用鼠標(biāo)或↑、↓鍵來上下滾動(dòng)屏幕。同時(shí)，可以：

 

3)調(diào)整ASA信號(hào)顯示順序

 

4)為信號(hào)制作硬拷貝

 

從 文件 菜單中選擇 打印 命令，可將所選器件已存儲(chǔ)的信號(hào)波形打印出來。選擇 打印預(yù)覽 命令，可在向打印機(jī)輸出之前檢查信號(hào)波形。

 

5)查看ICT數(shù)據(jù)

 

 

ICT 查看屏幕顯示所選擇集成電路的引腳連接圖，以及測(cè)試期間引腳的邏輯時(shí)序圖。

 

6)查看邏輯時(shí)序圖

 

邏輯時(shí)序圖顯示所選器件在每個(gè)測(cè)試步驟時(shí)的引腳狀態(tài)（測(cè)試步驟的序號(hào)顯示在框圖之上）。

 

7)查看連接數(shù)據(jù)

 

選擇 ASA 連接 或 ICT 連接 ，將顯示有關(guān)器件 連接 的數(shù)據(jù)。

 

九．電路板測(cè)試步驟

 

PFL780 提供了一個(gè)集成化的編程環(huán)境，用戶可以同時(shí)使用 ASA 和 ICT 技術(shù)創(chuàng)建測(cè)試程序。
測(cè)試一塊電路板有以下幾個(gè)步驟：

 

1）創(chuàng)建一個(gè)新任務(wù)

 

從文件菜單中選擇新建命令_PFL將打開一個(gè)新的測(cè)試列表窗口。
選擇插入器件命令向列表中添加器件。
用測(cè)試命令來采集和驗(yàn)證器件的參照信號(hào)。
通過ASA,ICT和連接窗口查看器件信號(hào)。
用插入器件命令向測(cè)試列表中添加其它器件。
必要時(shí)為器件或電路板添加注釋。
保存測(cè)試任務(wù)文件。

 

2）測(cè)試電路板

 

從 文件 菜單中選擇 打開 命令來選擇并打開電路板的測(cè)試文件。
從器件列表中選擇一個(gè)待測(cè)器件。
單擊 測(cè)試 按鈕或踩下腳踏開關(guān)，對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行測(cè)試。
查看屏幕上的測(cè)試結(jié)果，確定測(cè)試是否 通過 ，或連續(xù)測(cè)試完文件中的所有器件。

 

3）排除測(cè)試類型

 

通常，器件將執(zhí)行ASA、ICT和連接測(cè)試,用戶需要的話可以禁止其中的某種類型的測(cè)試。從 電路板 菜單中選擇 禁止測(cè)試類型 命令，然后將相應(yīng)測(cè)試類型前的復(fù)選框取消 _ 待測(cè)器件將只執(zhí)行剩下類型的測(cè)試。
如果某一測(cè)試類型被禁止，那么在測(cè)試列表窗口中將不能顯示相應(yīng)的選項(xiàng)。

 

4）使用電路板外觀圖

 

這是PFL780*的一項(xiàng)功能。用戶可以通過掃描儀、數(shù)字相機(jī)等設(shè)備獲得待測(cè)電路板的圖象（BMP文件），再在測(cè)試文件中打開此圖象文件，將測(cè)試列表中的各測(cè)試器件與電路板圖象上的器件一一對(duì)應(yīng)，使測(cè)試過程更加直觀醒目。

十．電路板故障檢測(cè)系統(tǒng)高級(jí)編輯

 

測(cè)試參數(shù)的缺省值使用于大多數(shù)器件的測(cè)試。器件 菜單中的 高級(jí)編輯 命令允許用戶對(duì)測(cè)試程序中每個(gè)器件的測(cè)試參數(shù)進(jìn)行更改（例如，測(cè)試類型，設(shè)定不同的測(cè)試電平或頻率，等等）。

高級(jí)編輯 菜單包含以下選項(xiàng)卡：

1)常規(guī)設(shè)置

設(shè)置器件的類型、索引、引腳數(shù)目和功能等的詳細(xì)描述。

2)設(shè)定ASA測(cè)試參數(shù)

通過 ASA 選項(xiàng)卡可以設(shè)置待測(cè)器件器件的 ASA 測(cè)試條件（電壓范圍、頻率等）。電壓范圍、設(shè)置比較的精度、頻率 _ 設(shè)定測(cè)試頻率、預(yù)充電 _ 控制采集信號(hào)的頻率及是否為逐個(gè)引腳比較等。

3)設(shè)定ICT測(cè)試參數(shù)（僅PFL780具有）

可以調(diào)整 ICT 測(cè)試的參數(shù)（邏輯電平以及步長(zhǎng)）。


4)使用脈沖信號(hào)發(fā)生器

在測(cè)試過程中需要使用脈沖信號(hào)發(fā)生器時(shí)，選擇方式1，方式2或直流等脈沖方式。

5)引腳名稱

可更改器件引腳的名稱，如IRQ, CLK等等。

6)對(duì)于器件某引腳禁止其測(cè)試結(jié)果

允許用戶對(duì)一狀態(tài)不穩(wěn)定的引腳,禁止使用一種或全部四種測(cè)試類型，以排除偶然性干擾對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響.

十一．?dāng)?shù)據(jù)記錄

1)數(shù)據(jù)記錄功能

 

    選擇數(shù)據(jù)記錄選項(xiàng)可以為待測(cè)電路板類型建立數(shù)據(jù)記錄.使用數(shù)據(jù)記錄,用戶可以收集到有關(guān)電路板的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)或器件的故障率(用于質(zhì)量管理和生產(chǎn)過程控制).

 

2)打印測(cè)試程序

 

    從文件菜單中選擇打印命令可以得到一份測(cè)試程序的硬拷貝_ 一份器件及其相關(guān)的測(cè)試參數(shù)的列表.打印前,可從文件菜單中選擇打印預(yù)覽命令查看測(cè)試文件.使用打印預(yù)覽工具欄可以整篇瀏覽測(cè)試文件.

 

十二.技術(shù)支持與培訓(xùn)

    Polar 公司將指導(dǎo)常規(guī)的技術(shù)培訓(xùn)并解答有關(guān)PFL 測(cè)試操作和 ASA 及 ICT 測(cè)試技術(shù)的問題 _ 請(qǐng)與本地的Polar公司代理商聯(lián)系以獲得更多的幫助。

 

北京金三航科技發(fā)展有限公司
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電話:
:-804

地址:北京市海淀區(qū)蘇州街18號(hào)長(zhǎng)遠(yuǎn)天地大廈A2座711室

 

選購附件

 

●SMD及IC測(cè)試棒

 

	586PC,Windows98環(huán)境,16MBRAM,VGA
標(biāo)準(zhǔn)附件	顯示器,RS232介面
	40腳DIL測(cè)試夾(含線)
	16腳DIL測(cè)試夾(含線)
	探棒
	脈波輸出導(dǎo)線
	腳踏開關(guān)
	中文操作手冊(cè)
	中文操作軟體
	英文操作軟體
	電源導(dǎo)線
	RS232 導(dǎo)線

 

測(cè)試功能	ASA/VI
	ICT
	連線(Link)
	快速測(cè)試(Quicktest)
	即時(shí)測(cè)試(LIVE)
通道數(shù)	1281V/500μA,10V/5mA,10V/150mA,20V/1mA,40V/1mA
測(cè)試檔位	90Hz,500Hz,2,000Hz
	TTL,CMOS,自行定義ICT位準(zhǔn)
脈波產(chǎn)生器	DC,0～±5V可調(diào),波寬可調(diào)
IC電源	5V@5A(自動(dòng)控制)
隔離端(Guard)	4個(gè)高邏輯位準(zhǔn)
	4個(gè)低邏輯位準(zhǔn)
連續(xù)測(cè)試 (Loop Mode)	連續(xù)
	連續(xù)至PASS
	連續(xù)至FAIL
元件庫	標(biāo)準(zhǔn)資料庫
	使用者增加

 

●IC測(cè)試夾DILIC

 

IC間距	IC寬度	腳數(shù)	型式	編號(hào)	編號(hào)
單排
0.4mm	-	32	單排	T141	√
0.5mm	-	32	單排	T140	√
0.65mm	-	32	單排	T137	√
0.8mm	-	16	單排	T139	√
1.0mm	-	14	單排	T136	√
0.025in	-	32	單排	T138	√
0.050in	-	11	單排	T131	√
0.1in	-	10	單排	T132	√
0.1in	-	10	單排	T132/N	√
雙排
0.1in	0.3in	16	雙排	T203
0.1in	0.3in	20	雙排	T204
小型
0.05in	0.1in	16	雙排	T201
0.05in	0.2in	20	雙排	T202
電晶體	SOT23電晶體探棒ACC166

 

IC寬度	腳數(shù)	編號(hào)	ACC139組件	ACC140組件
0.3in	8	ASY116	√	√
0.3in	14	ASY115	√	√
0.3in	16	ASY107
標(biāo)準(zhǔn)附件
0.3in	18	ASY117	√	√
0.3in	20	ASY110	√
0.3in	22	ASY118	√
0.6in	22	ASY120	√
0.3in	24	ASY112	√	√
0.6in	24	ASY114	√	√
0.3in	28	ASY119	√
0.6in	28	ASY113	√
0.6in	40	ASY106	√	√

 

標(biāo)準(zhǔn)附件
20	ASY129	√
28	ASY130	√
32	ASY131	√
44	ASY132	√
52	ASY133	√
68	ASY134	√
84	ASY135	√

 

專用介面轉(zhuǎn)換器

 

說明	編號(hào)
有5 種不同的測(cè)試夾,其中的一端有　40 針的接頭能與　PFL 780上的　40 針接口的輸入端相連	ACC137
40針的ZIP插座能連接在PFL780的40針接口的輸入端	ACC145
帶信號(hào)步線矩陣的單塊PCB板,能連接在PFL780的2個(gè)64通道的輸入端	T41282
帶信號(hào)步線矩陣和單端有PC卡接頭的PCB板,能連接在PFL780的2個(gè)64通道的輸入端	T41283