維修美國(guó)XIA粒子計(jì)數(shù)器
美國(guó)XIA粒子計(jì)數(shù)器 粒子計(jì)數(shù)器-UltraLo-1800
UltraLo-1800采用了電子背景抑制的技術(shù)，該技術(shù)將可達(dá)到的背景速率驅(qū)動(dòng)到0.0001 alphas / cm2 / hr或更低。這是目前可用的常規(guī)比例計(jì)數(shù)器系統(tǒng)所能達(dá)到的50倍或更大的倍數(shù)。
美國(guó)XIA LLC為大學(xué)研究，國(guó)家實(shí)驗(yàn)室和行業(yè)中的X射線，γ射線和其他輻射探測(cè)器發(fā)明應(yīng)用，開(kāi)發(fā)和銷售數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)采集和
維修美國(guó)XIA粒子計(jì)數(shù)器
美國(guó)XIA粒子計(jì)數(shù)器 粒子計(jì)數(shù)器-UltraLo-1800
UltraLo-1800采用了電子背景抑制的技術(shù)，該技術(shù)將可達(dá)到的背景速率驅(qū)動(dòng)到0.0001 alphas / cm2 / hr或更低。這是目前可用的常規(guī)比例計(jì)數(shù)器系統(tǒng)所能達(dá)到的50倍或更大的倍數(shù)。
美國(guó)XIA LLC為大學(xué)研究，國(guó)家實(shí)驗(yàn)室和行業(yè)中的X射線，γ射線和其他輻射探測(cè)器發(fā)明應(yīng)用，開(kāi)發(fā)和銷售數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)。一般而言，我們的儀器分為三大類-支持X射線探測(cè)器，伽馬射線探測(cè)器和超低本底計(jì)數(shù)。我們的X射線光譜電子學(xué)產(chǎn)品涵蓋了從手持式和臺(tái)式應(yīng)用的低成本OEM卡到PXI和獨(dú)立模塊的各種光譜，這些模塊可用于同步加速器和其他地方的超高速率計(jì)數(shù)。我們的核光譜電子覆蓋越來(lái)越寬范圍的從脈沖形狀分析使用高速閃爍體（典型地）研究中的應(yīng)用，以非常高的能量分辨率的HPGe光譜法，以重合的數(shù)據(jù)收集在大核物理檢測(cè)器陣列。超低本底儀器結(jié)合了反巧合和脈沖形狀分析功能，可以可靠地對(duì)每天僅產(chǎn)生少量計(jì)數(shù)的樣品進(jìn)行計(jì)數(shù)。
產(chǎn)品范圍：
美國(guó)XIA粒子計(jì)數(shù)器、伽馬射線探測(cè)器、數(shù)字脈沖處理器、X射線探測(cè)器、偏置電源。
主要型號(hào)：
UltraLo-1800、FalconX8、Pixie-16、FalconX8、DP-03
應(yīng)用領(lǐng)域:
醫(yī)療、半導(dǎo)體、物理
相關(guān)產(chǎn)品介紹：
粒子計(jì)數(shù)器-UltraLo-1800
UltraLo-1800采用了電子背景抑制的技術(shù)，該技術(shù)將可達(dá)到的背景速率驅(qū)動(dòng)到0.0001 alphas / cm2 / hr或更低。這是目前可用的常規(guī)比例計(jì)數(shù)器系統(tǒng)所能達(dá)到的50倍或更大的倍數(shù)。
通過(guò)使用新穎的雙通道脈沖形狀分析技術(shù)，UltraLo- 1800能夠區(qū)分被測(cè)樣品發(fā)射的α顆粒和計(jì)數(shù)器結(jié)構(gòu)其他部分發(fā)射的α顆粒。
特征：
UltraLo-1800是無(wú)窗超低本底Alpha粒子計(jì)數(shù)器，旨在測(cè)量固體材料的Alpha粒子發(fā)射率。
-電子背景抑制：大大減少了計(jì)數(shù)時(shí)間；在數(shù)小時(shí)或數(shù)天而不是數(shù)周或數(shù)月的時(shí)間內(nèi)測(cè)量ULA樣品。
-創(chuàng)新的樣品分析：能量信息可識(shí)別樣品表面上的同位素
-通過(guò)CounterMeasure進(jìn)行完整的儀器控制：運(yùn)行管理，數(shù)據(jù)分析，系統(tǒng)運(yùn)行狀況指標(biāo)等等。
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