1. 測(cè)試項(xiàng)目
1.1 時(shí) 間：完成各類開關(guān)固有分、合閘時(shí)間、相間同期、相內(nèi)同期和所有斷
口同期；
1.2 重 合 閘：一次性測(cè)量金屬短接時(shí)間（合—分）、無電流間隔時(shí)間（分—合）及（分—合—分、合—分—合）；
1.3 低 電 壓：儀器自帶DC30-250V/20A(短時(shí))數(shù)字調(diào)節(jié)操作電源,自動(dòng)完成開關(guān)低電壓試驗(yàn)并記錄電壓值；
1.4 彈 跳：分閘彈跳時(shí)間、合閘彈跳時(shí)間、彈跳次數(shù)、彈跳波形圖；
1.5 速 度：剛分、剛合速度、大速度、平均速度,并繪制“行程—時(shí)間（S-t）” 曲 線;配備三種傳感器，幾乎含蓋所有開關(guān)的速度測(cè)試；
1.6 行 程：開距、超程、過沖時(shí)間、過沖行程、反彈時(shí)間、反彈幅度；
1.7 電 流：分、合閘線圈電流，30A量程；
1.8 數(shù)據(jù)管理：大容量數(shù)據(jù)管理硬盤、高速運(yùn)算處理器、超大高亮液晶顯示、對(duì)話操作方式。
三、術(shù)語定義
1. 時(shí)間測(cè)量
1.1 分（合）閘時(shí)間
分（合）閘時(shí)間是指從開關(guān)接到分（合）閘控制信號(hào)（線圈上電）開始到開關(guān)動(dòng)觸頭與靜觸頭次分開（合上）為止的時(shí)間。
1.2 相內(nèi)同期
同相斷口之間，分、合閘時(shí)間大與小之差。
1.3 相間同期
A、B、C三相間，各相中合閘時(shí)間大值之差為合閘相間同期，分閘時(shí)間小值之差為分閘相間同期。
1.4 彈跳次數(shù)
彈跳次數(shù)是指開關(guān)動(dòng)、靜觸頭在分（合）閘操作過程中分開（合上）的次數(shù)。
1.5 彈跳時(shí)間
彈跳時(shí)間是指開關(guān)動(dòng)觸頭與靜觸頭從次分開（或合上）開始到后穩(wěn)定分開（或合上）為止的時(shí)間。
2. 速度及行程測(cè)量
2.1 剛分（剛合）速度
剛分（剛合）速度是指開關(guān)動(dòng)觸頭與靜觸頭接觸時(shí)的某一時(shí)間內(nèi)，或某一距離內(nèi)的平均速度。本測(cè)試儀提供很多開關(guān)的剛分（剛合）速度定義數(shù)據(jù)庫(kù)，選擇了某一類型就選擇了剛分（剛合）速度的定義。同時(shí)儀器也提供自定義功能，適合那些在數(shù)據(jù)庫(kù)里無法列舉的開關(guān)類型。
2.2 開距、超程
開距是指開關(guān)從分狀態(tài)開始到動(dòng)觸頭與靜觸頭剛接觸的這一段距離；超程是指開關(guān)從合狀態(tài)開始到動(dòng)觸頭與靜觸頭剛分開的這一段距離。
2.3 分（合）閘瞬時(shí)速度
分（合）閘瞬時(shí)速度是指開關(guān)動(dòng)觸頭運(yùn)動(dòng)時(shí)某一小段的平均速度，該小段的長(zhǎng)度取決于速度傳感器的分辨率，從而每個(gè)小段的平均速度反應(yīng)了開關(guān)動(dòng)觸頭的瞬時(shí)速度。
2.4 分（合）閘大速度
分（合）閘大速度是指分（合）閘瞬時(shí)速度中的大值，一般來說，該值應(yīng)出現(xiàn)在開關(guān)剛分開或合上的這一段，這一點(diǎn)可從速度-行程曲線中判斷。
2.5 分（合）閘平均速度
分（合）閘平均速度是指開關(guān)動(dòng)觸頭在分（合）閘過程中，10%行程到90%行程與此行程對(duì)應(yīng)的時(shí)間之比。同時(shí)儀器提供自定義功能。
2.6 行程-時(shí)間曲線
行程-時(shí)間曲線是開關(guān)動(dòng)觸頭運(yùn)動(dòng)過程中每一個(gè)時(shí)間單元對(duì)應(yīng)的行程關(guān)系曲線。
四、儀器界面介紹
儀器采用超大高清晰液晶顯示器，開機(jī)后，顯示試驗(yàn)項(xiàng)目：常規(guī)試驗(yàn)、重合閘試驗(yàn)、低電壓試驗(yàn)；
圖1
一共有三種試驗(yàn)可供選擇：常規(guī)試驗(yàn)、重合閘試驗(yàn)、低電壓試驗(yàn)。默認(rèn)為常規(guī)試驗(yàn)，按下面板上的 “確認(rèn)”按鈕后，進(jìn)入常規(guī)試驗(yàn)界面，如圖2所示。
圖2
屏幕上方顯示的是部分試驗(yàn)設(shè)置信息以及日期時(shí)間顯示。
屏幕左下方顯示的是目前斷口的實(shí)時(shí)狀態(tài)。
光標(biāo)默認(rèn)顯示在“測(cè)試”上。
通過面板上的左、右箭頭按鍵，可以將光標(biāo)移到“設(shè)置”或“重算”上。
可以使用鍵盤上的上箭頭“↑”或下箭頭“↓”來選擇需要修改的配置，當(dāng)前可修改的配置立刻會(huì)變成黑白反色光標(biāo)顯示，然后用左箭頭“←”或右箭頭“→”來更改所選的配置值。所有修改完成之后，按下鍵盤上的“退出”按鍵就修改成功了。返回后，光標(biāo)會(huì)停到“測(cè)試”上。按下鍵盤上的“確認(rèn)”按鈕，就可以根據(jù)剛才的試驗(yàn)配置來進(jìn)行開關(guān)試驗(yàn)。此時(shí)，界面如圖3所示。
圖3
顯然，目前斷口狀態(tài)為合閘，儀器會(huì)自動(dòng)識(shí)別并提示，需要做分閘試驗(yàn)，故顯示的是“開始分閘”。完成分閘試驗(yàn)后，需要做合閘試驗(yàn)，界面如圖4所示。
圖4
這樣，就完成了一次分合試驗(yàn)，之后界面如圖5所示：
圖5
斷口波形、S-t曲線以及各種試驗(yàn)結(jié)果將顯示在以上界面中。
如果按下右箭頭“→”或左箭頭“←”，還可以看到更多的試驗(yàn)數(shù)據(jù)，例如：相內(nèi)同期、相間同期等。如果按下下箭頭“↓”或上箭頭“↑”，可以選擇觀察分閘數(shù)據(jù)或打印整個(gè)試驗(yàn)數(shù)據(jù)。例如，將光標(biāo)移到“打印”處，再按下“確認(rèn)”按鍵，那么打印機(jī)就會(huì)將本次試驗(yàn)數(shù)據(jù)打印出來。
對(duì)于重合閘試驗(yàn)以及低電壓試驗(yàn)，操作方法與常規(guī)試驗(yàn)類似，在此，不再敘述。
如果要在臺(tái)式電腦上分析試驗(yàn)數(shù)據(jù)，可以在做試驗(yàn)時(shí)，將U盤插入U(xiǎn)SB接口。做完試驗(yàn)后，按下“保存”。注意，某些劣質(zhì)U盤儀器可能無法識(shí)別，因此，推薦使用廠家所配置的U盤型號(hào)。
按面板上的“功能”鍵按鈕并確認(rèn)后，可以用于打開以前保存到U盤中的測(cè)試數(shù)據(jù)。選擇“時(shí)鐘”選項(xiàng)，可以用來調(diào)整儀器時(shí)鐘。
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