為什么不同絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)出示值存在差異？

由于高壓絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試電源非理想電壓源，內(nèi)阻Ri不同測(cè)量回路串接電阻Rm不同，動(dòng)態(tài)測(cè)量準(zhǔn)確度不同，以及現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量操作的不合理或失誤等，不同型號(hào)絕緣電阻測(cè)試儀對(duì)同一被測(cè)試品的測(cè)量結(jié)果會(huì)存在差異。實(shí)際測(cè)量時(shí)，應(yīng)結(jié)合絕緣電阻測(cè)試儀絕緣試驗(yàn)條件的特殊性盡量降低可能出現(xiàn)的各種測(cè)量誤差： （1） 不同型號(hào)的絕緣表測(cè)量同一試品時(shí)，應(yīng)采用相同的電壓等級(jí)和接線方法。例如在測(cè)量電力變壓器高壓繞組絕緣中，當(dāng)繞組引出端始終接絕緣電阻測(cè)試儀L端鈕時(shí)，就有： E端鈕接低壓繞組和外殼，而G端鈕懸空的直接法； E端鈕接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法（低電位屏蔽）；G端鈕接在高壓繞組套管的表面，而E端鈕先接低壓繞組，然后分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法（高電位屏蔽）。 E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組等接線方法。 不同結(jié)構(gòu)、制式的絕緣電阻測(cè)試儀，G端鈕電位不同，G端鈕在套管表面的安放位置也應(yīng)隨之改變。（KD2677為低電位屏蔽，即G端鈕為低電位）。 （2） 不同型號(hào)絕緣電阻測(cè)試儀的量程和示值的刻度方法不同，刻度分辨力不同，測(cè)量準(zhǔn)確度等級(jí)不同，都會(huì)引起示值間的差異。為了保證對(duì)電力設(shè)備的準(zhǔn)確測(cè)量，應(yīng)避免選用準(zhǔn)確度低，使用不方便的搖表。 （3） 試品大多含容性分量，并存在介質(zhì)極化現(xiàn)象，即使測(cè)試條件相同也難以獲得理想的數(shù)據(jù)重復(fù)性。 （4） 測(cè)量時(shí)，絕緣介質(zhì)的溫度和油溫應(yīng)與環(huán)境溫度一致，一般允許相差±5%。 （5） 應(yīng)在特定時(shí)間段的允許時(shí)間差范圍內(nèi)，盡快地讀取測(cè)量值。為使測(cè)量誤差不高于±5%，讀取R60S的時(shí)間允許誤差±3S，而讀取R15S的時(shí)間不應(yīng)相差±1S。 （6） 高壓測(cè)試電源非理想電壓源，重負(fù)荷（被測(cè)試品絕緣電阻值?。r(shí)，輸出電壓低于其額定值，這將導(dǎo)致單支路直讀測(cè)量法絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量準(zhǔn)確度因轉(zhuǎn)換系數(shù)的改變而降低。這種改變因絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試電源負(fù)荷特性不同而異。 （7） 不同動(dòng)態(tài)測(cè)試容量指標(biāo)的絕緣電阻測(cè)試儀，試驗(yàn)電壓在試品上（及采樣電阻上）的建立過(guò)程與對(duì)試品的充電能力均存在差異，測(cè)量結(jié)果也會(huì)不同，使用低于動(dòng)態(tài)測(cè)試容量指標(biāo)門(mén)限值的絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量時(shí)，由于儀表存在慣性網(wǎng)絡(luò)（包括指針式儀表的機(jī)械慣性）導(dǎo)致示值響應(yīng)速度較慢，來(lái)不及正確反映試品實(shí)在絕緣電阻值隨時(shí)間的變化規(guī)律，尤其是在測(cè)試的起始階段，電容充電電流未*衰減為零，更會(huì)使R15S和吸收比讀測(cè)值產(chǎn)生較大誤差（偏?。?。 （8） 試品絕緣介質(zhì)極化狀況與外加試驗(yàn)電壓大小有關(guān)。由于試驗(yàn)電壓不能迅速達(dá)到額定值，或因絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試電源負(fù)荷特性不同導(dǎo)致施加于試品上試驗(yàn)電壓的差異，使試品初始極化狀況不同，導(dǎo)致吸收電流不同，使緣電阻測(cè)量的示值不同。 （9） 國(guó)外某些絕緣電阻測(cè)試儀的試驗(yàn)高電壓連續(xù)可調(diào)，開(kāi)機(jī)后先由零調(diào)節(jié)至額定值。絕緣電阻測(cè)試儀讀數(shù)起始時(shí)間的不確定性，以及高壓達(dá)到額定值時(shí)間的不確定性，使試品初始極化不同，也將引起示值間的差別。 （10） 不同絕緣電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)干擾的敏感度和抵御能力不同，對(duì)同一試品的讀測(cè)值會(huì)存在差異。 （11） 數(shù)據(jù)隨機(jī)起伏的常規(guī)測(cè)量誤差和絕緣電阻測(cè)試儀方法誤差不同等引起示值間的差異。 （12） 介質(zhì)放電不充分是重復(fù)測(cè)量結(jié)果存在差異的重要原因之一。據(jù)試品充電吸收電流與其反向放電電流對(duì)應(yīng)和可逆的特點(diǎn)，若需對(duì)同一試品進(jìn)行第二次重復(fù)測(cè)量，*次測(cè)量結(jié)束后的試品短路放電間歇時(shí)間一般應(yīng)長(zhǎng)于測(cè)量時(shí)間，以放盡所積聚的吸收電荷量，使試品絕緣介質(zhì)充分恢復(fù)到原先無(wú)極化狀態(tài)，否則將影響第二次測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度。為使被試品上無(wú)剩余電荷，每一次試驗(yàn)前也應(yīng)該將測(cè)量端對(duì)地短路放電，有時(shí)甚至需時(shí)近1小時(shí)，并應(yīng)拆除與無(wú)關(guān)設(shè)備間的聯(lián)線?？傊辉嚻凡煌瑫r(shí)期的絕緣測(cè)量，應(yīng)采用相同的試驗(yàn)電壓等級(jí)和接線方法，并盡可能使用同一型號(hào)或性能相近的絕緣電阻表，以保證測(cè)量數(shù)據(jù)的可比性。 （13） zui后還應(yīng)特別強(qiáng)調(diào)選用動(dòng)態(tài)測(cè)量準(zhǔn)確度較低和高壓測(cè)試電源容量較低的儀表，由于電容充電電流尚未*衰減為零，以及儀表示值不能準(zhǔn)確地實(shí)時(shí)跟隨試品視在絕緣電阻值的變化，讀測(cè)R15S阻值偏低，出現(xiàn)較大誤差，導(dǎo)致試品吸收比測(cè)試值虛假偏高，應(yīng)引起測(cè)試人員特別重視。這也可能是各種型號(hào)高壓絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量同一試品時(shí)吸收比讀測(cè)值存在差異的主要原因。由此也說(shuō)明吸收比判比指標(biāo)不及極化指數(shù)科學(xué)和客觀。